2024年7月19日，國際電工委員會（IEC）發(fā)布標(biāo)準(zhǔn)IEC 63378-2：2024《半導(dǎo)體封裝的熱標(biāo)準(zhǔn)化 - 第2部分：用于穩(wěn)態(tài)分析的分立半導(dǎo)體封裝的3D熱仿真模型》。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了分立半導(dǎo)體封裝（TO-243、TO-252 和 TO-263）的三維（3D）熱模型，用于電子裝置的穩(wěn)態(tài)熱分析，以準(zhǔn)確地估計結(jié)溫。假設(shè)該模型由半導(dǎo)體供應(yīng)商制造，并由電子裝置的組裝制造商使用。

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